Tanja H.

Tanja H. ist als Microscopy & Spectroscopy Specialist seit 6 Jahren im Einsatz, Schwerpunkt Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalytik. 6 Jahre Erfahrung als Microscopy & Spectroscopy Specialist, Schwerpunkt Elektronenmikroskopie und Oberflächenanalytik. Bisherige Einsätze vor allem in Halbleitertechnik. Charakterisierungs-Spezialisten untersuchen Werkstoffe und Schichten mit Mikroskopie und Spektroskopie und belegen damit, woraus ein Bauteil tatsächlich besteht. Belegtes Ergebnis: Kontamination einem Prozessschritt zugeordnet Arbeitet remote, bis 15 % reisebereitschaft. Werkzeuge: REM mit EDX, Raman, Schliff- und Poliergeräte. Die Projekterfahrung stammt überwiegend aus dem Bereich Halbleitertechnik. Ein belegtes Ergebnis aus der Praxis: Kontamination einem Prozessschritt zugeordnet. Der Einsatz erfolgt überwiegend remote.

Fachlich stützt sich das Profil auf Elektronenmikroskopie, Oberflächenanalytik und REM mit EDX. Im Einsatz sind REM mit EDX, Raman und Schliff- und Poliergeräte. Belegt sind diese Ergebnisse unter anderem durch Kontamination einem Prozessschritt zugeordnet. Typische Aufgaben im Projekt sind Präzise Entnahme und Einbettung von Proben aus Bauteilen für die metallographische Untersuchung., Durchführung von Rasterelektronenmikroskopie zur hochauflösenden Oberflächencharakterisierung. und Chemische Identifikation von Partikeln mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie.