Peter H.

Peter H. ist als Microscopy & Spectroscopy Specialist seit 7 Jahren im Einsatz, Schwerpunkt Dünnschichten und Spektroskopie. Sieben Jahre Spektroskopie an dünnen Schichten und optischen Komponenten. Charakterisierungs-Spezialisten untersuchen Werkstoffe und Schichten mit Mikroskopie und Spektroskopie und belegen damit, woraus ein Bauteil tatsächlich besteht. Der Schwerpunkt liegt auf Dünnschichten und Spektroskopie. Arbeitet hybrid, bis 20 % reisebereitschaft. Werkzeuge: Raman, XRD, Ellipsometer. Die Projekterfahrung stammt überwiegend aus dem Bereich Optik. Ein belegtes Ergebnis aus der Praxis: Schichtaufbau eines Haftungsfehlers aufgeklärt – Ausschuss um 18 % gesenkt. Der Einsatz erfolgt hybrid, mit einzelnen Präsenztagen.

Fachlich stützt sich das Profil auf Spektroskopie, Schichtanalyse und Messunsicherheit. Im Einsatz sind Raman, XRD und Ellipsometer. Belegt sind diese Ergebnisse unter anderem durch Messbericht mit Spektren, Bildern und Zuordnung und Zusammensetzung, Herkunftshypothese, Prozesshinweis. Typische Aufgaben im Projekt sind Präzise Entnahme und Einbettung von Proben aus Bauteilen für die metallographische Untersuchung., Durchführung von Rasterelektronenmikroskopie zur hochauflösenden Oberflächencharakterisierung. und Chemische Identifikation von Partikeln mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie.